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    EW1000波片檢測儀
    • 成像雙折射檢測儀EWI

    • EWI成像雙折射檢測儀基于偏振調制技術,用于對晶體、液晶等平面樣品的雙折射特性及其分布進行高精度、快速檢測,主要包括∶ (1) 相位延遲差檢測 (2) 方位角檢測 EWI成像雙折射檢測儀非常適合于相位延遲片、或由應力引起的雙折射特性等監測,可應用于科研的新品研發、醫療診斷、以及工業制造過程中的質量控制等。
    • EW1000波片檢測儀

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